В Нидерландах арестовали инженера из России Германа Аксенова за промышленный шпионаж в области микроэлектроники
В Нидерландах задержали 43-летнего уроженца России, сотрудника производящей микрочипы компании NXP Германа А. по обвинению в промышленном шпионаже. Об этом сообщают местные СМИ. The Insider выяснил, что речь идет о российском инженере Германе Аксёнове.
В разное время Аксёнов работал в нидерландских фирмах ASML и Mapper. Как предполагает следствие, он несколько лет крал важные документы фирм, такие как инструкции по эксплуатации микрочипов, и передавал их в Россию за вознаграждение в десятки тысяч евро. Помимо уголовного преследования, Аксёнову запретили въезд в Нидерланды на 20 лет — как отмечают местные журналисты, такие меры принимаются в случае угрозы национальной безопасности. Компания Mapper обанкротилась и была продана ASML, при этом сообщалось, что голландское правительство под давлением Пентагона вынуждено было просить ASML пойти на эту сделку — американское военное руководство опасалось, что в результате банкротства лазерные технологии Mapper попадут к россиянам или китайцам.
Судя по утечкам из российских баз данных, в 2016 году Аксёнов работал также в ОАО «НИИМЭ и Микрон», занятом разработкой технологии многоэлектронной лучевой литографии. Кроме того, как сообщает нидерландская пресса, Аксёнов работал в ООО «Маппер» — дочерней компании Mapper в России.
Как рассказывал The Insider, ООО «Маппер» — одна из пяти российских компаний, использующих литографические установки производства ASML для производства микросхем. Их внутрироссийское производство экономически нецелесообразно, а современные уровни технологии — недостижимы, однако у военных могут быть свои причины, почему для их приложений производство внутри страны предпочтительнее. ООО «Маппер» с 2018 года не принадлежит нидерландской Mapper, сейчас его владельцем является компания «Астрон», производящая в числе прочего дроны и тепловизоры. При этом, по сведениям The Insider, «Маппер» уже в 2023 году ввезла в Россию американский аргоновый лазер для сканирования поверхности полупроводниковых пластин для обнаружения на них дефектов KLA-TENCOR SURFSCAN 6200, обнаруживающий пылинки размером до 200 нанометров.