В статье описывается применение режима многоточечных измерений (свипирование автоматическое по диапазону или с произвольно устанавливаемым шагом) в анализаторах компонентов АММ-30х8, который расширяет возможности прибора, в том числе при исследовании полупроводниковых структур, повышает достоверность результатов и снижает время проведение измерений.
