Сверхбыстрая оптическая микроскопия вне дифракционного предела

Применение в оптических наблюдениях эванесцентных полей позволило преодолеть дифракционный предел, но лишь для медленных процессов. С другой стороны, использование сверхкоротких оптических импульсов делает возможным наблюдение быстрых процессов, но с плохим пространственным разрешением – много больше размера атома. T. Siday (Регенсбургский университет, Германия) и соавторы разработали комбинированную методику, впервые достигнув в одном оптическом наблюдении субдифракционного разрешения на масштабе одного атома и разрешения по времени на уровне одного колебания электромагнитной волны [11]. Использовалась вольфрамовая игла у поверхности монослоя WSe₂ на золотой подложке, освещаемая световыми импульсами. Под действием света происходило туннелирование электронов между иглой и поверхностью с частотой световой волны, и наблюдалось электромагнитное излучение туннельного тока. Пространственное разрешение в наблюдении таким способом поверхностных дефектов составило ≈ пм с разрешением по времени ≈ фс. Об использовании металинз для получения изображений с субволновым разрешением см. [12]. [11] Siday T et al. Nature 629 329 (2024) [12] Барышникова К В и др. УФН 192 386 (2022); Baryshnikova K V et al. Phys. Usp. 65 355 (2022)