Российские учёные улучшили систему контроля качества производства электроники

Учёные ПГУ разработали технологию, которая позволяет «заглянуть» внутрь электроники для контроля качества

Учёные из Пензенского государственного университета разработали новую математическую модель, позволяющую «заглянуть» внутрь объектов из диэлектрических материалов и обнаружить их дефекты, не повреждая их. По информации Минобрнауки РФ, модель можно применять на производственных линиях для быстрого и точного контроля качества.

Метод основан на анализе отражения и пропускания электромагнитных волн, которые помогают выявить внутренние неоднородности и дефекты. Один из авторов проекта, Андрей Лапич, отметил, что использование такого подхода позволяет точно определить структуру объекта на основе математического моделирования и двухэтапного анализа. Лапич добавил, что главное преимущество метода — это возможность свести сложные расчёты к линейному уравнению, позволяющему точно определить диэлектрические свойства материалов.

Этот способ особенно полезен для областей, где доступ к внутренней структуре объектов без их повреждения затруднён. По словам разработчиков, технология идеально подходит для контроля большого количества образцов на конвейере, позволяя быстро и безопасно выявлять скрытые изъяны и дефекты в изделиях.